UL于臺北的印刷電路板性能測試服務(wù)實驗室日前正式開幕，配合廣受業(yè)界肯定的UL746及UL796的安全認(rèn)證，為當(dāng)?shù)赜∷?a href="http://wdfi.cn">電路板上下游提供更完整的產(chǎn)品規(guī)范測試及檢測服務(wù)。

隨著人類生活的全面電子化，不論是玩具、汽車、手機、網(wǎng)路、云端伺服器、乃至于穿戴裝置與隨身醫(yī)療配件，印刷電路板都是產(chǎn)品內(nèi)不可缺少的零件，帶著重要的角色。為配合產(chǎn)業(yè)發(fā)展，UL選擇于臺灣印刷電路板制造業(yè)的重鎮(zhèn)，發(fā)展最新印刷電路板性能測試服務(wù)實驗室，主要提供三項可靠度與性能測試服務(wù)，包括CAF陽極玻纖紗電化學(xué)遷移成長及IST互連應(yīng)力試驗兩項可靠度試驗，與針對訊號完整性的SET2DIL單端阻抗訊號損失試驗性能測試。

CAF是針對電路板在長期使用下的絕緣可靠度試驗，向來是須有高可靠度要求的終端產(chǎn)品客戶，如伺服器、汽車電子及醫(yī)療電子產(chǎn)業(yè)，對印刷電路板及其材料能力的重點評估項目。UL臺灣的CAF試驗偏壓最高可提供到1000VDC，可滿足絕大部分制造商的測試需求。

IST提供一個快速檢驗電路板導(dǎo)通性能長期可靠度試驗方法，此方法可以縮短傳統(tǒng)溫度循環(huán)測試時間過長的問題。透過專用測試板及客制化的測試板設(shè)計，可快速提供電路板對導(dǎo)通性能的檢測，以利客戶認(rèn)證與制程改善檢驗。

SET2DIL/Delta-L是Intel主導(dǎo)的測試方法，針對訊號完整性要求高的電路板，進行高頻訊號性能測試。是針對PWB制程與材料評估的重要測試。

UL電子科技產(chǎn)業(yè)大中華區(qū)工程部總監(jiān)蔡英哲指出，現(xiàn)今電路板設(shè)計追求高品質(zhì)、高密度、高速應(yīng)用，而UL是唯一可涵蓋物性、化性及電性的全方位實驗室；加上提供測試前諮詢與設(shè)計輔導(dǎo)，以及測試后的失效分析找出關(guān)鍵問題根源，有助制造商優(yōu)化產(chǎn)品，在競爭市場中成為焦點。

UL臺灣印刷電路板性能實驗室的成立象徵進一步提升電路板產(chǎn)業(yè)的整體競爭力，將各種資源做到最充分的整合及發(fā)揮，讓臺灣電路板產(chǎn)業(yè)可以在地完成國際認(rèn)同的檢驗測試。未來UL也會持續(xù)關(guān)注市場發(fā)展，逐步擴充其他印刷電路板性能測試項目。

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